了解高速数据转换器中的信噪比(SNR)和噪声频谱密度(NSD)-模拟混合信号在线培训

关注
了解高速数据转换器中的信噪比(SNR)和噪声频谱密度(NSD)-模拟混合信号在线培训www.shan-machinery.com了解高速数据转换器中的信噪比(SNR)和噪声频谱密度(NSD)Loading the player...

将在30s后自动为您播放下一课程

重播本课程重播本课程汽车Qi无线充电1.1 人机交互与 TI Sitara 处理器的应用 - 1.简介电源模块的概念系统变得简单第1部分:太阳能逆变器运算放大器技术概述   Print Download 您好。我是 Ken Chan, 歡迎您觀看此簡報,我們將 探討高速資料轉換器的 訊噪比和雜訊頻譜密度 相關概念。 簡報的第一 部分會透過定義訊噪比, 也就是 SNR 的意義,來探討 SNR 相關概念。接著會更 仔細探討構成SNR 雜訊部分的 各種組成。其中包含 熱雜訊、量化雜訊和量化時脈抖動。我們會提供 受抖動影響的SNR 計算範例。簡報的第二 部分會檢視雜訊頻譜密度, 也就是 NSD 的概念,並說明其與 SNR 有何不同。最後我們會 提供設計範例,由於其與 雜訊位準相關性能 規格有關,因此將會特別 說明如何運用 NSD來估計 DAC 輸出性能。在實際系統中, 訊號通常會遭雜訊破壞,因而產生 有雜訊的訊號。簡單地說, 訊噪比,或稱 SNR,是在指定訊號 頻寬下訊號功率與雜訊功率的比較結果。計算方式 通常是執行快速傅立葉轉換,又稱 FFT, 並觀察頻域中的基本訊號功率與 雜訊底線功率結果。雜訊底線 功率通常指在指定頻寬 中,除了基頻訊號 與基頻諧波以外的所有 雜訊積分值。SNR 是訊號 功率與雜訊底線功率積分值 間的差異。由於 SNR 是 訊號功率與雜訊功率間的 差異,因此提升 SNR只有兩種方式。第一種方式是將 訊號功率提升至最大全幅範圍。我們不建議 將輸入訊號強度增加到超過 全幅範圍,會對 ADC 性能 造成負面影響。第二種提升 SNR 的 方式是減少雜訊功率。雜訊功率 通常是量化雜訊、時脈抖動 造成的雜訊、ADC 孔徑 抖動造成的雜訊及電路熱雜訊的 組合結果。熱雜訊.減少其中 一個或全部雜訊來源可幫助 提升 SNR 性能。假設訊號 功率保持在固定位準, 我們便可透過每個雜訊 來源的雜訊功率組成進行 SNR 評估。每個雜訊功率來源 都可視為獨立。這三種雜訊 功率來源為量化雜訊、 時脈抖動雜訊及熱與 電晶體雜訊。選擇 ADC 等設計決定會包含量化 雜訊的 N 位元、ADC 擷取抖動及 ADC 設計的熱雜訊。取樣時脈選擇 會造成時脈抖動雜訊,ADC 取樣率 選擇則通常會 決定雜訊結合的頻寬。一般來說,通常是 第一個 Nyquist 區到 FS 除以 2。在假設正弦波 輸入的情況下,我們可依量化 誤差理論值來計算量化誤差。計算方式為每位元 6.02 dB 加上 1.76 dB。此算式可判定 N 個位元數的最大 SNR 值。實際 ADC 中 還有其他限制因素,例如取樣 時脈抖動、ADC 孔徑抖動、熱雜訊、其他系統 雜訊來源、轉換器超取樣率及 應用通道頻寬。電路雜訊 來源通常有三種:散射雜訊、 閃爍雜訊與熱雜訊。散射雜訊是由 P-N 接面的 DC 偏壓電流所造成,並且不會保持恆定。通常具有 白雜訊頻譜。閃爍雜訊是 由主動電路和電子載波移動所造成, 通常會有 1/F 波形接近 DC。熱雜訊則是由 電阻器熱激發所造成,通常具有 白雜訊分布。ADC 中的雜訊 受輸入電阻之追蹤與保持電路 熱雜訊分布影響,雜訊頻寬受限 於 RC 頻寬,得到的熱雜訊 功率可以 kT/C 求得。時脈抖動的定義為 時脈訊號緣相較於其理想時間點的 隨機變化。此訊號緣中的 變異會造成轉換器在 非理想時間點下進行資料取樣, 產生誤差進而影響整體雜訊與 SNR。因抖動所造成的 SNR 理論限制為負 20 乘上 log 2 π f n 乘以總抖動。總抖動是 時脈源抖動和內部 ADC 時脈電路所造成的額外抖動總和, 又可稱為孔徑抖動。時脈抖動會 造成輸入波形取樣錯誤, 在高輸入頻率下更是常見。我們可對抖動及 熱雜訊所帶來的SNR 影響進行繪製。熱雜訊在 低輸入頻率下為主要雜訊, 而在高輸入頻率下,主要雜訊則是 抖動所造成的雜訊。我們可將 得到的 SNR視為抖動和熱雜訊 所造成的 SNR 缺損總和。右圖可 用來說明抖動對高頻率 輸入訊號所產生的較大影響。很明顯在 低頻率輸入下,可能誤差 比高輸入頻率小很多。如同先前所述, 總抖動包含取樣 時脈抖動和孔徑抖動。時脈抖動是 來自外部取樣時脈 來源的分布,可透過相位雜訊 分析儀進行測量。孔徑抖動只發生在 ADC 時脈電路內部,無法透過相位雜訊 分析儀進行測量。通常會利用 非常清楚的時脈和高輸入頻率 來進行特性分析,並根據 SNR 測量值 估計總抖動。接著會利用 外部取樣時脈相位雜訊測量值, 得到內部孔徑抖動的估計值。這是取樣時脈 以 122.88 MHz 執行時,在相位雜訊 分析儀測量到的相位雜訊圖範例。抖動是從 10 kHz 到 10 MHz 的相位雜訊積分值。此例中得到的 抖動值為 299 飛秒。若有相位 雜訊圖,我們也可 執行簡單的時脈源抖動估算。在前一個範例中, 10 kHz 到10 MHz 間 相位雜訊積分值為每赫茲 負 75.72 dBc。f 時派等於 122.88 MHz,即可得到公式 結果為 299.77 飛秒。以抖動和 輸入訊號頻率進行 SNR 傳統計算時,也需注意一些 其他考量。先前提到 抖動造成的 SNR理論限制為總抖動 與輸入頻率的函數。頻率.但這代表 不管取樣率為何,輸入 頻率的 SNR都會相同。於是問題 變成超取樣的優點究竟為何。為何不在每個應用中 採用低取樣呢?原來 SNR 計算會因取樣時脈頻率 與輸入頻率略受影響。若將取樣 時脈抖動公式帶入 SNR 公式, 即可得到兩個部分。一個與相位 雜訊積分值有關,另一個 則以取樣頻率的輸入頻率 超取樣為基礎。若使用超取樣, 此修正項便能改善 SNR。這是較通用的 ADC SNR 公式。此通用公式 非常重要,因為與利用 抖動對 SNR 的影響,而不考慮 取樣頻率或輸入訊號頻率的 傳統公式簡化計算相比,此公式可對 ADC SNR 性能 進行更精確的估算。頻率.在大多數情況下, ADC 時脈都會經過完整濾波,在頻率偏移較大時 也會有較佳雜訊表現。在部分情況下, 系統要求常會限制在特定頻寬, 因此我們只會注意特定頻寬下的 雜訊底線性能。使用傳統 SNR 估算會需要更嚴格的 雜訊規格,這些規格有 可能無法達成,或是會使解決方案的 複雜性與成本超出所需程度。觀察特定頻率 和特定頻寬下的SNR 性能,可幫助得到 更具最佳化的系統解決方案.我們執行了一個 簡單的實驗,來驗證 ADC SNR 的 通用公式。我們利用高速 ADC,產生在時脈頻率 附近雜訊已知過大的時脈。我們將其用來驅動 ADC 取樣時脈,並有兩個不同 輸入訊號送入 ADC。其中一個 音頻為 10 MHz,另一個則是 100 MHz。ADC 擷取到的 結果訊號會重疊並一起顯示。如同我們預期, 取樣時脈相位雜訊在 10 MHz 和 100 MHz 下會耦合在 輸入訊號上。超取樣 修正係數透過 25 倍 超取樣率提升 10 MHz 的 相位雜訊,使得雜訊 功率減少 28 dB。而在 100 MHz, 超取樣為 2.5 倍, 造成雜訊功率減少 8 dB。下一個部份我們會討論 DAC 輸出雜訊底線的概念。雜訊頻譜 密度又稱 NSD,是偏好規格與 SNR 的關係。DAC SNR 的估算值 與 ADC 相同。同樣的, 雜訊底線是由量化組成、 時脈與孔徑抖動,以及熱與電阻器 雜訊構成。SNR 抖動限制的 處理方式也相同。對 DAC 而言, NSD 規格通常會比 SNR 來得重要。NSD 在載波 附近的波形通常必須符合 某些傳輸遮罩。通常在需要 SNR 的時候,系統常會以 帶通或低通濾波器限制 訊號頻寬。接著便可在 濾波器的通帶中,利用 NSD 估算雜訊底線。這也是大多數 新產品說明書會說明 NSD、有限頻寬與 SNR 關係、第一個 Nyquist 區等資訊的主因之一。在實際系統中, 想要觀測的頻段附近通常會有 較嚴格的濾波器,此頻段外的所有 頻譜都會經過濾波。相較於回報 整個第一Nyquist 區的 雜訊底線,顯示每赫茲 雜訊功率後再計算濾波器通帶 頻率的雜訊底線,會是比較 方便的做法。我們來思考 一個簡單的範例,範例中 DAC3484 在 1.2288 GSPS 下執行,並在前 100 MHz 中產生所需頻率。我們假設 DAC3484 的NSD 為每赫茲負 160 dBc。若採用 角頻率為FS/2 或第一 Nyquist 區的低通濾波器,便可計算整個 第一 Nyquist 區的雜訊底線,得到的 雜訊底線為負 72.12 dBFS。但若採用 角頻率約為 100 MHz 的 低通濾波器,那麼在 100 MHz 內的 雜訊底線則是負 80 dBFS。若只看相關 雜訊底線,規格最好是 在 8 dB 左右。DAC 的 SNR 可透過 NSD 規格轉換得到。NSD 規格是 1 赫茲 間隔的功率。若要將此轉換成 特定頻寬 SNR,只要乘上赫茲 頻寬即可得到。若為 Nyquist 區 或 FS/2 的傳統 SNR, 則可利用NSD 的雜訊 底線,再加上 10 log FS/2 進行計算。接著可將基頻 訊號功率減去雜訊底線, 得到 SNR。以 DAC3484 實際範例來說,NSD 是在 每赫茲負 160 dBc。若 DAC 的取樣率 為 1.25 GSPS,則可求得 雜訊底線為每赫茲負 60 dBc 加上 10 log 1.25 GB 除以 2,也就是負 160 dBc 加 88 dB, 得到的 SNR 為 72 dBFS。Fs總結來說, ADC 和 DAC 的雜訊底線可透過 SNR 和 NSD 來求得。您可視應用 來決定何者比較適合。決定使用 哪一個時,最好能將 NSD 與 SNR 的 重點銘記在心。以抖動為計算基礎的 SNR 是能夠方便估算整個 Nyquist 頻段 SNR 的算法。但對有限頻寬應用 而言可能會太過悲觀。以偏移頻率 測量到的 NSD 為基礎,所求得之 SNR 估算值不考慮近載波相位雜訊,可能會影響 EVM 百分比等頻內測量值。EVM.NSD 對有限 雜訊 ACPR 等頻外測量非常有幫助。運用時脈 NSD 曲線 和有限頻寬雜訊計算,再搭配 SNR 通用公式,會是頻內與 頻外測量的理想解決方案。感謝您收看 本簡報。 您好。我是 Ken Chan, 歡迎您觀看此簡報,我們將 探討高速資料轉換器的 訊噪比和雜訊頻譜密度 相關概念。 簡報的第一 部分會透過定義訊噪比, 也就是 SNR 的意義,來探討 SNR 相關概念。接著會更 仔細探討構成SNR 雜訊部分的 各種組成。其中包含 熱雜訊、量化雜訊和量化時脈抖動。我們會提供 受抖動影響的SNR 計算範例。簡報的第二 部分會檢視雜訊頻譜密度, 也就是 NSD 的概念,並說明其與 SNR 有何不同。最後我們會 提供設計範例,由於其與 雜訊位準相關性能 規格有關,因此將會特別 說明如何運用 NSD來估計 DAC 輸出性能。在實際系統中, 訊號通常會遭雜訊破壞,因而產生 有雜訊的訊號。簡單地說, 訊噪比,或稱 SNR,是在指定訊號 頻寬下訊號功率與雜訊功率的比較結果。計算方式 通常是執行快速傅立葉轉換,又稱 FFT, 並觀察頻域中的基本訊號功率與 雜訊底線功率結果。雜訊底線 功率通常指在指定頻寬 中,除了基頻訊號 與基頻諧波以外的所有 雜訊積分值。SNR 是訊號 功率與雜訊底線功率積分值 間的差異。由於 SNR 是 訊號功率與雜訊功率間的 差異,因此提升 SNR只有兩種方式。第一種方式是將 訊號功率提升至最大全幅範圍。我們不建議 將輸入訊號強度增加到超過 全幅範圍,會對 ADC 性能 造成負面影響。第二種提升 SNR 的 方式是減少雜訊功率。雜訊功率 通常是量化雜訊、時脈抖動 造成的雜訊、ADC 孔徑 抖動造成的雜訊及電路熱雜訊的 組合結果。熱雜訊.減少其中 一個或全部雜訊來源可幫助 提升 SNR 性能。假設訊號 功率保持在固定位準, 我們便可透過每個雜訊 來源的雜訊功率組成進行 SNR 評估。每個雜訊功率來源 都可視為獨立。這三種雜訊 功率來源為量化雜訊、 時脈抖動雜訊及熱與 電晶體雜訊。選擇 ADC 等設計決定會包含量化 雜訊的 N 位元、ADC 擷取抖動及 ADC 設計的熱雜訊。取樣時脈選擇 會造成時脈抖動雜訊,ADC 取樣率 選擇則通常會 決定雜訊結合的頻寬。一般來說,通常是 第一個 Nyquist 區到 FS 除以 2。在假設正弦波 輸入的情況下,我們可依量化 誤差理論值來計算量化誤差。計算方式為每位元 6.02 dB 加上 1.76 dB。此算式可判定 N 個位元數的最大 SNR 值。實際 ADC 中 還有其他限制因素,例如取樣 時脈抖動、ADC 孔徑抖動、熱雜訊、其他系統 雜訊來源、轉換器超取樣率及 應用通道頻寬。電路雜訊 來源通常有三種:散射雜訊、 閃爍雜訊與熱雜訊。散射雜訊是由 P-N 接面的 DC 偏壓電流所造成,並且不會保持恆定。通常具有 白雜訊頻譜。閃爍雜訊是 由主動電路和電子載波移動所造成, 通常會有 1/F 波形接近 DC。熱雜訊則是由 電阻器熱激發所造成,通常具有 白雜訊分布。ADC 中的雜訊 受輸入電阻之追蹤與保持電路 熱雜訊分布影響,雜訊頻寬受限 於 RC 頻寬,得到的熱雜訊 功率可以 kT/C 求得。時脈抖動的定義為 時脈訊號緣相較於其理想時間點的 隨機變化。此訊號緣中的 變異會造成轉換器在 非理想時間點下進行資料取樣, 產生誤差進而影響整體雜訊與 SNR。因抖動所造成的 SNR 理論限制為負 20 乘上 log 2 π f n 乘以總抖動。總抖動是 時脈源抖動和內部 ADC 時脈電路所造成的額外抖動總和, 又可稱為孔徑抖動。時脈抖動會 造成輸入波形取樣錯誤, 在高輸入頻率下更是常見。我們可對抖動及 熱雜訊所帶來的SNR 影響進行繪製。熱雜訊在 低輸入頻率下為主要雜訊, 而在高輸入頻率下,主要雜訊則是 抖動所造成的雜訊。我們可將 得到的 SNR視為抖動和熱雜訊 所造成的 SNR 缺損總和。右圖可 用來說明抖動對高頻率 輸入訊號所產生的較大影響。很明顯在 低頻率輸入下,可能誤差 比高輸入頻率小很多。如同先前所述, 總抖動包含取樣 時脈抖動和孔徑抖動。時脈抖動是 來自外部取樣時脈 來源的分布,可透過相位雜訊 分析儀進行測量。孔徑抖動只發生在 ADC 時脈電路內部,無法透過相位雜訊 分析儀進行測量。通常會利用 非常清楚的時脈和高輸入頻率 來進行特性分析,並根據 SNR 測量值 估計總抖動。接著會利用 外部取樣時脈相位雜訊測量值, 得到內部孔徑抖動的估計值。這是取樣時脈 以 122.88 MHz 執行時,在相位雜訊 分析儀測量到的相位雜訊圖範例。抖動是從 10 kHz 到 10 MHz 的相位雜訊積分值。此例中得到的 抖動值為 299 飛秒。若有相位 雜訊圖,我們也可 執行簡單的時脈源抖動估算。在前一個範例中, 10 kHz 到10 MHz 間 相位雜訊積分值為每赫茲 負 75.72 dBc。f 時派等於 122.88 MHz,即可得到公式 結果為 299.77 飛秒。以抖動和 輸入訊號頻率進行 SNR 傳統計算時,也需注意一些 其他考量。先前提到 抖動造成的 SNR理論限制為總抖動 與輸入頻率的函數。頻率.但這代表 不管取樣率為何,輸入 頻率的 SNR都會相同。於是問題 變成超取樣的優點究竟為何。為何不在每個應用中 採用低取樣呢?原來 SNR 計算會因取樣時脈頻率 與輸入頻率略受影響。若將取樣 時脈抖動公式帶入 SNR 公式, 即可得到兩個部分。一個與相位 雜訊積分值有關,另一個 則以取樣頻率的輸入頻率 超取樣為基礎。若使用超取樣, 此修正項便能改善 SNR。這是較通用的 ADC SNR 公式。此通用公式 非常重要,因為與利用 抖動對 SNR 的影響,而不考慮 取樣頻率或輸入訊號頻率的 傳統公式簡化計算相比,此公式可對 ADC SNR 性能 進行更精確的估算。頻率.在大多數情況下, ADC 時脈都會經過完整濾波,在頻率偏移較大時 也會有較佳雜訊表現。在部分情況下, 系統要求常會限制在特定頻寬, 因此我們只會注意特定頻寬下的 雜訊底線性能。使用傳統 SNR 估算會需要更嚴格的 雜訊規格,這些規格有 可能無法達成,或是會使解決方案的 複雜性與成本超出所需程度。觀察特定頻率 和特定頻寬下的SNR 性能,可幫助得到 更具最佳化的系統解決方案.我們執行了一個 簡單的實驗,來驗證 ADC SNR 的 通用公式。我們利用高速 ADC,產生在時脈頻率 附近雜訊已知過大的時脈。我們將其用來驅動 ADC 取樣時脈,並有兩個不同 輸入訊號送入 ADC。其中一個 音頻為 10 MHz,另一個則是 100 MHz。ADC 擷取到的 結果訊號會重疊並一起顯示。如同我們預期, 取樣時脈相位雜訊在 10 MHz 和 100 MHz 下會耦合在 輸入訊號上。超取樣 修正係數透過 25 倍 超取樣率提升 10 MHz 的 相位雜訊,使得雜訊 功率減少 28 dB。而在 100 MHz, 超取樣為 2.5 倍, 造成雜訊功率減少 8 dB。下一個部份我們會討論 DAC 輸出雜訊底線的概念。雜訊頻譜 密度又稱 NSD,是偏好規格與 SNR 的關係。DAC SNR 的估算值 與 ADC 相同。同樣的, 雜訊底線是由量化組成、 時脈與孔徑抖動,以及熱與電阻器 雜訊構成。SNR 抖動限制的 處理方式也相同。對 DAC 而言, NSD 規格通常會比 SNR 來得重要。NSD 在載波 附近的波形通常必須符合 某些傳輸遮罩。通常在需要 SNR 的時候,系統常會以 帶通或低通濾波器限制 訊號頻寬。接著便可在 濾波器的通帶中,利用 NSD 估算雜訊底線。這也是大多數 新產品說明書會說明 NSD、有限頻寬與 SNR 關係、第一個 Nyquist 區等資訊的主因之一。在實際系統中, 想要觀測的頻段附近通常會有 較嚴格的濾波器,此頻段外的所有 頻譜都會經過濾波。相較於回報 整個第一Nyquist 區的 雜訊底線,顯示每赫茲 雜訊功率後再計算濾波器通帶 頻率的雜訊底線,會是比較 方便的做法。我們來思考 一個簡單的範例,範例中 DAC3484 在 1.2288 GSPS 下執行,並在前 100 MHz 中產生所需頻率。我們假設 DAC3484 的NSD 為每赫茲負 160 dBc。若採用 角頻率為FS/2 或第一 Nyquist 區的低通濾波器,便可計算整個 第一 Nyquist 區的雜訊底線,得到的 雜訊底線為負 72.12 dBFS。但若採用 角頻率約為 100 MHz 的 低通濾波器,那麼在 100 MHz 內的 雜訊底線則是負 80 dBFS。若只看相關 雜訊底線,規格最好是 在 8 dB 左右。DAC 的 SNR 可透過 NSD 規格轉換得到。NSD 規格是 1 赫茲 間隔的功率。若要將此轉換成 特定頻寬 SNR,只要乘上赫茲 頻寬即可得到。若為 Nyquist 區 或 FS/2 的傳統 SNR, 則可利用NSD 的雜訊 底線,再加上 10 log FS/2 進行計算。接著可將基頻 訊號功率減去雜訊底線, 得到 SNR。以 DAC3484 實際範例來說,NSD 是在 每赫茲負 160 dBc。若 DAC 的取樣率 為 1.25 GSPS,則可求得 雜訊底線為每赫茲負 60 dBc 加上 10 log 1.25 GB 除以 2,也就是負 160 dBc 加 88 dB, 得到的 SNR 為 72 dBFS。Fs總結來說, ADC 和 DAC 的雜訊底線可透過 SNR 和 NSD 來求得。您可視應用 來決定何者比較適合。決定使用 哪一個時,最好能將 NSD 與 SNR 的 重點銘記在心。以抖動為計算基礎的 SNR 是能夠方便估算整個 Nyquist 頻段 SNR 的算法。但對有限頻寬應用 而言可能會太過悲觀。以偏移頻率 測量到的 NSD 為基礎,所求得之 SNR 估算值不考慮近載波相位雜訊,可能會影響 EVM 百分比等頻內測量值。EVM.NSD 對有限 雜訊 ACPR 等頻外測量非常有幫助。運用時脈 NSD 曲線 和有限頻寬雜訊計算,再搭配 SNR 通用公式,會是頻內與 頻外測量的理想解決方案。感謝您收看 本簡報。

您好。

我是 Ken Chan, 歡迎您觀看此簡報,

我們將 探討高速

資料轉換器的 訊噪比和

雜訊頻譜密度 相關概念。

簡報的第一 部分會透過

定義訊噪比, 也就是 SNR 的意義,

來探討 SNR 相關概念。

接著會更 仔細探討構成

SNR 雜訊部分的 各種組成。

其中包含 熱雜訊、量化雜訊和

量化時脈抖動。

我們會提供 受抖動影響的

SNR 計算範例。

簡報的第二 部分會檢視

雜訊頻譜密度, 也就是 NSD 的概念,

並說明其與 SNR 有何不同。

最後我們會 提供設計範例,

由於其與 雜訊位準

相關性能 規格有關,

因此將會特別 說明如何運用 NSD

來估計 DAC 輸出性能。

在實際系統中, 訊號通常會

遭雜訊破壞,因而產生 有雜訊的訊號。

簡單地說, 訊噪比,或稱 SNR,

是在指定訊號 頻寬下訊號功率與

雜訊功率的比較結果。

計算方式 通常是執行快速傅立葉

轉換,又稱 FFT, 並觀察頻域中的

基本訊號功率與 雜訊底線功率結果。

雜訊底線 功率通常指在

指定頻寬 中,除了

基頻訊號 與基頻諧波

以外的所有 雜訊積分值。

SNR 是訊號 功率與雜訊

底線功率積分值 間的差異。

由於 SNR 是 訊號功率與

雜訊功率間的 差異,因此提升 SNR

只有兩種方式。

第一種方式是將 訊號功率提升至

最大全幅範圍。

我們不建議 將輸入訊號強度

增加到超過 全幅範圍,

會對 ADC 性能 造成負面影響。

第二種提升 SNR 的 方式是減少雜訊功率。

雜訊功率 通常是量化雜訊、

時脈抖動 造成的雜訊、

ADC 孔徑 抖動造成的

雜訊及電路熱雜訊的 組合結果。

熱雜訊.

減少其中 一個或全部

雜訊來源可幫助 提升 SNR 性能。

假設訊號 功率保持在

固定位準, 我們便可透過

每個雜訊 來源的雜訊功率

組成進行 SNR 評估。

每個雜訊功率來源 都可視為獨立。

這三種雜訊 功率來源為

量化雜訊、 時脈抖動雜訊

及熱與 電晶體雜訊。

選擇 ADC 等設計決定

會包含量化 雜訊的 N 位元、

ADC 擷取抖動及 ADC 設計的熱雜訊。

取樣時脈選擇 會造成時脈抖動雜訊,

ADC 取樣率 選擇則

通常會 決定雜訊

結合的頻寬。

一般來說,通常是 第一個 Nyquist 區到 FS 除以 2。

在假設正弦波 輸入的情況下,

我們可依量化 誤差理論值

來計算量化誤差。

計算方式為每位元 6.02 dB 加上 1.76 dB。

此算式可判定 N 個位元數的

最大 SNR 值。

實際 ADC 中 還有其他限制

因素,例如取樣 時脈抖動、ADC 孔徑抖動、

熱雜訊、其他系統 雜訊來源、轉換器

超取樣率及 應用通道頻寬。

電路雜訊 來源通常

有三種:散射雜訊、 閃爍雜訊與熱雜訊。

散射雜訊是由 P-N 接面的 DC 偏壓電流所造成,

並且不會保持恆定。

通常具有 白雜訊頻譜。

閃爍雜訊是 由主動電路和

電子載波移動所造成, 通常會有 1/F 波形接近 DC。

熱雜訊則是由 電阻器熱激發

所造成,通常具有 白雜訊分布。

ADC 中的雜訊 受輸入電阻之

追蹤與保持電路 熱雜訊分布影響,

雜訊頻寬受限 於 RC 頻寬,

得到的熱雜訊 功率可以 kT/C 求得。

時脈抖動的定義為 時脈訊號緣

相較於其理想時間點的 隨機變化。

此訊號緣中的 變異會造成

轉換器在 非理想時間點下

進行資料取樣, 產生誤差進而影響

整體雜訊與 SNR。

因抖動所造成的 SNR 理論限制為

負 20 乘上 log 2 π f n 乘以總抖動。

總抖動是 時脈源抖動和

內部 ADC 時脈電路所造成的

額外抖動總和, 又可稱為孔徑抖動。

時脈抖動會 造成輸入波形

取樣錯誤, 在高輸入頻率下

更是常見。

我們可對抖動及 熱雜訊所帶來的

SNR 影響進行繪製。

熱雜訊在 低輸入頻率下

為主要雜訊, 而在高輸入頻率下,

主要雜訊則是 抖動所造成的雜訊。

我們可將 得到的 SNR

視為抖動和熱雜訊 所造成的 SNR 缺損總和。

右圖可 用來說明

抖動對高頻率 輸入訊號

所產生的較大影響。

很明顯在 低頻率輸入下,

可能誤差 比高輸入頻率

小很多。

如同先前所述, 總抖動

包含取樣 時脈抖動

和孔徑抖動。

時脈抖動是 來自外部

取樣時脈 來源的分布,

可透過相位雜訊 分析儀進行測量。

孔徑抖動只發生在 ADC 時脈電路內部,

無法透過相位雜訊 分析儀進行測量。

通常會利用 非常清楚的時脈

和高輸入頻率 來進行特性分析,

並根據 SNR 測量值 估計總抖動。

接著會利用 外部取樣時脈

相位雜訊測量值, 得到內部孔徑抖動的

估計值。

這是取樣時脈 以 122.88 MHz 執行時,

在相位雜訊 分析儀測量到的

相位雜訊圖範例。

抖動是從 10 kHz 到 10 MHz 的

相位雜訊積分值。

此例中得到的 抖動值為 299 飛秒。

若有相位 雜訊圖,

我們也可 執行簡單的

時脈源抖動估算。

在前一個範例中, 10 kHz 到

10 MHz 間 相位雜訊

積分值為每赫茲 負 75.72 dBc。

f 時派等於 122.88 MHz,

即可得到公式 結果為 299.77 飛秒。

以抖動和 輸入訊號頻率

進行 SNR 傳統計算時,

也需注意一些 其他考量。

先前提到 抖動造成的 SNR

理論限制為總抖動 與輸入頻率的函數。

頻率.

但這代表 不管取樣率

為何,輸入 頻率的 SNR

都會相同。

於是問題 變成超取樣的

優點究竟為何。

為何不在每個應用中 採用低取樣呢?

原來 SNR 計算會因取樣

時脈頻率 與輸入頻率

略受影響。

若將取樣 時脈抖動公式

帶入 SNR 公式, 即可得到兩個部分。

一個與相位 雜訊積分值有關,

另一個 則以取樣頻率的

輸入頻率 超取樣為基礎。

若使用超取樣, 此修正項便能

改善 SNR。

這是較通用的 ADC SNR 公式。

此通用公式 非常重要,

因為與利用 抖動對 SNR 的影響,

而不考慮 取樣頻率或

輸入訊號頻率的 傳統公式簡化計算相比,

此公式可對 ADC SNR 性能 進行更精確的估算。

頻率.

在大多數情況下, ADC 時脈都會經過完整濾波,

在頻率偏移較大時 也會有較佳雜訊表現。

在部分情況下, 系統要求常會

限制在特定頻寬, 因此我們只會

注意特定頻寬下的 雜訊底線性能。

使用傳統 SNR 估算會需要

更嚴格的 雜訊規格,

這些規格有 可能無法達成,

或是會使解決方案的 複雜性與成本

超出所需程度。

觀察特定頻率 和特定頻寬下的

SNR 性能,可幫助得到 更具最佳化的系統

解決方案.

我們執行了一個 簡單的實驗,

來驗證 ADC SNR 的 通用公式。

我們利用高速 ADC,產生在

時脈頻率 附近雜訊

已知過大的時脈。

我們將其用來驅動 ADC 取樣時脈,

並有兩個不同 輸入訊號送入 ADC。

其中一個 音頻為 10 MHz,

另一個則是 100 MHz。

ADC 擷取到的 結果訊號會

重疊並一起顯示。

如同我們預期, 取樣時脈相位雜訊

在 10 MHz 和 100 MHz 下

會耦合在 輸入訊號上。

超取樣 修正係數

透過 25 倍 超取樣率

提升 10 MHz 的 相位雜訊,

使得雜訊 功率減少 28 dB。

而在 100 MHz, 超取樣

為 2.5 倍, 造成雜訊功率

減少 8 dB。

下一個部份我們會討論 DAC 輸出雜訊底線的

概念。

雜訊頻譜 密度又稱 NSD,

是偏好規格與 SNR 的關係。

DAC SNR 的估算值 與 ADC 相同。

同樣的, 雜訊底線是由

量化組成、 時脈與孔徑抖動,

以及熱與電阻器 雜訊構成。

SNR 抖動限制的 處理方式也相同。

對 DAC 而言, NSD 規格通常

會比 SNR 來得重要。

NSD 在載波 附近的波形

通常必須符合 某些傳輸遮罩。

通常在需要 SNR 的時候,

系統常會以 帶通或低通

濾波器限制 訊號頻寬。

接著便可在 濾波器的通帶中,

利用 NSD 估算雜訊底線。

這也是大多數 新產品說明書

會說明 NSD、有限頻寬與 SNR 關係、

第一個 Nyquist 區等資訊的主因之一。

在實際系統中, 想要觀測的頻段

附近通常會有 較嚴格的濾波器,

此頻段外的所有 頻譜都會經過濾波。

相較於回報 整個第一

Nyquist 區的 雜訊底線,

顯示每赫茲 雜訊功率後再計算

濾波器通帶 頻率的雜訊底線,

會是比較 方便的做法。

我們來思考 一個簡單的範例,

範例中 DAC3484 在 1.2288 GSPS 下執行,

並在前 100 MHz 中

產生所需頻率。

我們假設 DAC3484 的

NSD 為每赫茲負 160 dBc。

若採用 角頻率為

FS/2 或第一 Nyquist 區的低通濾波器,

便可計算整個 第一 Nyquist 區的

雜訊底線,得到的 雜訊底線為

負 72.12 dBFS。

但若採用 角頻率

約為 100 MHz 的 低通濾波器,

那麼在 100 MHz 內的 雜訊底線則是負 80 dBFS。

若只看相關 雜訊底線,

規格最好是 在 8 dB 左右。

DAC 的 SNR 可透過 NSD 規格

轉換得到。

NSD 規格是 1 赫茲 間隔的功率。

若要將此轉換成 特定頻寬 SNR,

只要乘上赫茲 頻寬即可得到。

若為 Nyquist 區 或 FS/2 的

傳統 SNR, 則可利用

NSD 的雜訊 底線,

再加上 10 log FS/2 進行計算。

接著可將基頻 訊號功率

減去雜訊底線, 得到 SNR。

以 DAC3484 實際範例來說,

NSD 是在 每赫茲

負 160 dBc。

若 DAC 的取樣率 為 1.25 GSPS,

則可求得 雜訊底線為

每赫茲負 60 dBc 加上 10 log 1.25 GB 除以 2,

也就是負 160 dBc 加 88 dB, 得到的 SNR 為 72 dBFS。

Fs

總結來說, ADC 和 DAC 的

雜訊底線可透過 SNR 和 NSD 來求得。

您可視應用 來決定何者

比較適合。

決定使用 哪一個時,最好能

將 NSD 與 SNR 的 重點銘記在心。

以抖動為計算基礎的 SNR 是能夠方便

估算整個 Nyquist 頻段 SNR 的算法。

但對有限頻寬應用 而言可能會太過

悲觀。

以偏移頻率 測量到的 NSD 為基礎,

所求得之 SNR 估算值不考慮近載波相位雜訊,

可能會影響 EVM 百分比等頻內測量值。

EVM.

NSD 對有限 雜訊 ACPR 等

頻外測量非常有幫助。

運用時脈 NSD 曲線 和有限頻寬雜訊

計算,再搭配 SNR 通用公式,

會是頻內與 頻外測量的

理想解決方案。

感謝您收看 本簡報。

您好。我是 Ken Chan, 歡迎您觀看此簡報,我們將 探討高速資料轉換器的 訊噪比和雜訊頻譜密度 相關概念。 簡報的第一 部分會透過定義訊噪比, 也就是 SNR 的意義,來探討 SNR 相關概念。接著會更 仔細探討構成SNR 雜訊部分的 各種組成。其中包含 熱雜訊、量化雜訊和量化時脈抖動。我們會提供 受抖動影響的SNR 計算範例。簡報的第二 部分會檢視雜訊頻譜密度, 也就是 NSD 的概念,並說明其與 SNR 有何不同。最後我們會 提供設計範例,由於其與 雜訊位準相關性能 規格有關,因此將會特別 說明如何運用 NSD來估計 DAC 輸出性能。在實際系統中, 訊號通常會遭雜訊破壞,因而產生 有雜訊的訊號。簡單地說, 訊噪比,或稱 SNR,是在指定訊號 頻寬下訊號功率與雜訊功率的比較結果。計算方式 通常是執行快速傅立葉轉換,又稱 FFT, 並觀察頻域中的基本訊號功率與 雜訊底線功率結果。雜訊底線 功率通常指在指定頻寬 中,除了基頻訊號 與基頻諧波以外的所有 雜訊積分值。SNR 是訊號 功率與雜訊底線功率積分值 間的差異。由於 SNR 是 訊號功率與雜訊功率間的 差異,因此提升 SNR只有兩種方式。第一種方式是將 訊號功率提升至最大全幅範圍。我們不建議 將輸入訊號強度增加到超過 全幅範圍,會對 ADC 性能 造成負面影響。第二種提升 SNR 的 方式是減少雜訊功率。雜訊功率 通常是量化雜訊、時脈抖動 造成的雜訊、ADC 孔徑 抖動造成的雜訊及電路熱雜訊的 組合結果。熱雜訊.減少其中 一個或全部雜訊來源可幫助 提升 SNR 性能。假設訊號 功率保持在固定位準, 我們便可透過每個雜訊 來源的雜訊功率組成進行 SNR 評估。每個雜訊功率來源 都可視為獨立。這三種雜訊 功率來源為量化雜訊、 時脈抖動雜訊及熱與 電晶體雜訊。選擇 ADC 等設計決定會包含量化 雜訊的 N 位元、ADC 擷取抖動及 ADC 設計的熱雜訊。取樣時脈選擇 會造成時脈抖動雜訊,ADC 取樣率 選擇則通常會 決定雜訊結合的頻寬。一般來說,通常是 第一個 Nyquist 區到 FS 除以 2。在假設正弦波 輸入的情況下,我們可依量化 誤差理論值來計算量化誤差。計算方式為每位元 6.02 dB 加上 1.76 dB。此算式可判定 N 個位元數的最大 SNR 值。實際 ADC 中 還有其他限制因素,例如取樣 時脈抖動、ADC 孔徑抖動、熱雜訊、其他系統 雜訊來源、轉換器超取樣率及 應用通道頻寬。電路雜訊 來源通常有三種:散射雜訊、 閃爍雜訊與熱雜訊。散射雜訊是由 P-N 接面的 DC 偏壓電流所造成,並且不會保持恆定。通常具有 白雜訊頻譜。閃爍雜訊是 由主動電路和電子載波移動所造成, 通常會有 1/F 波形接近 DC。熱雜訊則是由 電阻器熱激發所造成,通常具有 白雜訊分布。ADC 中的雜訊 受輸入電阻之追蹤與保持電路 熱雜訊分布影響,雜訊頻寬受限 於 RC 頻寬,得到的熱雜訊 功率可以 kT/C 求得。時脈抖動的定義為 時脈訊號緣相較於其理想時間點的 隨機變化。此訊號緣中的 變異會造成轉換器在 非理想時間點下進行資料取樣, 產生誤差進而影響整體雜訊與 SNR。因抖動所造成的 SNR 理論限制為負 20 乘上 log 2 π f n 乘以總抖動。總抖動是 時脈源抖動和內部 ADC 時脈電路所造成的額外抖動總和, 又可稱為孔徑抖動。時脈抖動會 造成輸入波形取樣錯誤, 在高輸入頻率下更是常見。我們可對抖動及 熱雜訊所帶來的SNR 影響進行繪製。熱雜訊在 低輸入頻率下為主要雜訊, 而在高輸入頻率下,主要雜訊則是 抖動所造成的雜訊。我們可將 得到的 SNR視為抖動和熱雜訊 所造成的 SNR 缺損總和。右圖可 用來說明抖動對高頻率 輸入訊號所產生的較大影響。很明顯在 低頻率輸入下,可能誤差 比高輸入頻率小很多。如同先前所述, 總抖動包含取樣 時脈抖動和孔徑抖動。時脈抖動是 來自外部取樣時脈 來源的分布,可透過相位雜訊 分析儀進行測量。孔徑抖動只發生在 ADC 時脈電路內部,無法透過相位雜訊 分析儀進行測量。通常會利用 非常清楚的時脈和高輸入頻率 來進行特性分析,並根據 SNR 測量值 估計總抖動。接著會利用 外部取樣時脈相位雜訊測量值, 得到內部孔徑抖動的估計值。這是取樣時脈 以 122.88 MHz 執行時,在相位雜訊 分析儀測量到的相位雜訊圖範例。抖動是從 10 kHz 到 10 MHz 的相位雜訊積分值。此例中得到的 抖動值為 299 飛秒。若有相位 雜訊圖,我們也可 執行簡單的時脈源抖動估算。在前一個範例中, 10 kHz 到10 MHz 間 相位雜訊積分值為每赫茲 負 75.72 dBc。f 時派等於 122.88 MHz,即可得到公式 結果為 299.77 飛秒。以抖動和 輸入訊號頻率進行 SNR 傳統計算時,也需注意一些 其他考量。先前提到 抖動造成的 SNR理論限制為總抖動 與輸入頻率的函數。頻率.但這代表 不管取樣率為何,輸入 頻率的 SNR都會相同。於是問題 變成超取樣的優點究竟為何。為何不在每個應用中 採用低取樣呢?原來 SNR 計算會因取樣時脈頻率 與輸入頻率略受影響。若將取樣 時脈抖動公式帶入 SNR 公式, 即可得到兩個部分。一個與相位 雜訊積分值有關,另一個 則以取樣頻率的輸入頻率 超取樣為基礎。若使用超取樣, 此修正項便能改善 SNR。這是較通用的 ADC SNR 公式。此通用公式 非常重要,因為與利用 抖動對 SNR 的影響,而不考慮 取樣頻率或輸入訊號頻率的 傳統公式簡化計算相比,此公式可對 ADC SNR 性能 進行更精確的估算。頻率.在大多數情況下, ADC 時脈都會經過完整濾波,在頻率偏移較大時 也會有較佳雜訊表現。在部分情況下, 系統要求常會限制在特定頻寬, 因此我們只會注意特定頻寬下的 雜訊底線性能。使用傳統 SNR 估算會需要更嚴格的 雜訊規格,這些規格有 可能無法達成,或是會使解決方案的 複雜性與成本超出所需程度。觀察特定頻率 和特定頻寬下的SNR 性能,可幫助得到 更具最佳化的系統解決方案.我們執行了一個 簡單的實驗,來驗證 ADC SNR 的 通用公式。我們利用高速 ADC,產生在時脈頻率 附近雜訊已知過大的時脈。我們將其用來驅動 ADC 取樣時脈,並有兩個不同 輸入訊號送入 ADC。其中一個 音頻為 10 MHz,另一個則是 100 MHz。ADC 擷取到的 結果訊號會重疊並一起顯示。如同我們預期, 取樣時脈相位雜訊在 10 MHz 和 100 MHz 下會耦合在 輸入訊號上。超取樣 修正係數透過 25 倍 超取樣率提升 10 MHz 的 相位雜訊,使得雜訊 功率減少 28 dB。而在 100 MHz, 超取樣為 2.5 倍, 造成雜訊功率減少 8 dB。下一個部份我們會討論 DAC 輸出雜訊底線的概念。雜訊頻譜 密度又稱 NSD,是偏好規格與 SNR 的關係。DAC SNR 的估算值 與 ADC 相同。同樣的, 雜訊底線是由量化組成、 時脈與孔徑抖動,以及熱與電阻器 雜訊構成。SNR 抖動限制的 處理方式也相同。對 DAC 而言, NSD 規格通常會比 SNR 來得重要。NSD 在載波 附近的波形通常必須符合 某些傳輸遮罩。通常在需要 SNR 的時候,系統常會以 帶通或低通濾波器限制 訊號頻寬。接著便可在 濾波器的通帶中,利用 NSD 估算雜訊底線。這也是大多數 新產品說明書會說明 NSD、有限頻寬與 SNR 關係、第一個 Nyquist 區等資訊的主因之一。在實際系統中, 想要觀測的頻段附近通常會有 較嚴格的濾波器,此頻段外的所有 頻譜都會經過濾波。相較於回報 整個第一Nyquist 區的 雜訊底線,顯示每赫茲 雜訊功率後再計算濾波器通帶 頻率的雜訊底線,會是比較 方便的做法。我們來思考 一個簡單的範例,範例中 DAC3484 在 1.2288 GSPS 下執行,並在前 100 MHz 中產生所需頻率。我們假設 DAC3484 的NSD 為每赫茲負 160 dBc。若採用 角頻率為FS/2 或第一 Nyquist 區的低通濾波器,便可計算整個 第一 Nyquist 區的雜訊底線,得到的 雜訊底線為負 72.12 dBFS。但若採用 角頻率約為 100 MHz 的 低通濾波器,那麼在 100 MHz 內的 雜訊底線則是負 80 dBFS。若只看相關 雜訊底線,規格最好是 在 8 dB 左右。DAC 的 SNR 可透過 NSD 規格轉換得到。NSD 規格是 1 赫茲 間隔的功率。若要將此轉換成 特定頻寬 SNR,只要乘上赫茲 頻寬即可得到。若為 Nyquist 區 或 FS/2 的傳統 SNR, 則可利用NSD 的雜訊 底線,再加上 10 log FS/2 進行計算。接著可將基頻 訊號功率減去雜訊底線, 得到 SNR。以 DAC3484 實際範例來說,NSD 是在 每赫茲負 160 dBc。若 DAC 的取樣率 為 1.25 GSPS,則可求得 雜訊底線為每赫茲負 60 dBc 加上 10 log 1.25 GB 除以 2,也就是負 160 dBc 加 88 dB, 得到的 SNR 為 72 dBFS。Fs總結來說, ADC 和 DAC 的雜訊底線可透過 SNR 和 NSD 來求得。您可視應用 來決定何者比較適合。決定使用 哪一個時,最好能將 NSD 與 SNR 的 重點銘記在心。以抖動為計算基礎的 SNR 是能夠方便估算整個 Nyquist 頻段 SNR 的算法。但對有限頻寬應用 而言可能會太過悲觀。以偏移頻率 測量到的 NSD 為基礎,所求得之 SNR 估算值不考慮近載波相位雜訊,可能會影響 EVM 百分比等頻內測量值。EVM.NSD 對有限 雜訊 ACPR 等頻外測量非常有幫助。運用時脈 NSD 曲線 和有限頻寬雜訊計算,再搭配 SNR 通用公式,會是頻內與 頻外測量的理想解決方案。感謝您收看 本簡報。

您好。

我是 Ken Chan, 歡迎您觀看此簡報,

我們將 探討高速

資料轉換器的 訊噪比和

雜訊頻譜密度 相關概念。

簡報的第一 部分會透過

定義訊噪比, 也就是 SNR 的意義,

來探討 SNR 相關概念。

接著會更 仔細探討構成

SNR 雜訊部分的 各種組成。

其中包含 熱雜訊、量化雜訊和

量化時脈抖動。

我們會提供 受抖動影響的

SNR 計算範例。

簡報的第二 部分會檢視

雜訊頻譜密度, 也就是 NSD 的概念,

並說明其與 SNR 有何不同。

最後我們會 提供設計範例,

由於其與 雜訊位準

相關性能 規格有關,

因此將會特別 說明如何運用 NSD

來估計 DAC 輸出性能。

在實際系統中, 訊號通常會

遭雜訊破壞,因而產生 有雜訊的訊號。

簡單地說, 訊噪比,或稱 SNR,

是在指定訊號 頻寬下訊號功率與

雜訊功率的比較結果。

計算方式 通常是執行快速傅立葉

轉換,又稱 FFT, 並觀察頻域中的

基本訊號功率與 雜訊底線功率結果。

雜訊底線 功率通常指在

指定頻寬 中,除了

基頻訊號 與基頻諧波

以外的所有 雜訊積分值。

SNR 是訊號 功率與雜訊

底線功率積分值 間的差異。

由於 SNR 是 訊號功率與

雜訊功率間的 差異,因此提升 SNR

只有兩種方式。

第一種方式是將 訊號功率提升至

最大全幅範圍。

我們不建議 將輸入訊號強度

增加到超過 全幅範圍,

會對 ADC 性能 造成負面影響。

第二種提升 SNR 的 方式是減少雜訊功率。

雜訊功率 通常是量化雜訊、

時脈抖動 造成的雜訊、

ADC 孔徑 抖動造成的

雜訊及電路熱雜訊的 組合結果。

熱雜訊.

減少其中 一個或全部

雜訊來源可幫助 提升 SNR 性能。

假設訊號 功率保持在

固定位準, 我們便可透過

每個雜訊 來源的雜訊功率

組成進行 SNR 評估。

每個雜訊功率來源 都可視為獨立。

這三種雜訊 功率來源為

量化雜訊、 時脈抖動雜訊

及熱與 電晶體雜訊。

選擇 ADC 等設計決定

會包含量化 雜訊的 N 位元、

ADC 擷取抖動及 ADC 設計的熱雜訊。

取樣時脈選擇 會造成時脈抖動雜訊,

ADC 取樣率 選擇則

通常會 決定雜訊

結合的頻寬。

一般來說,通常是 第一個 Nyquist 區到 FS 除以 2。

在假設正弦波 輸入的情況下,

我們可依量化 誤差理論值

來計算量化誤差。

計算方式為每位元 6.02 dB 加上 1.76 dB。

此算式可判定 N 個位元數的

最大 SNR 值。

實際 ADC 中 還有其他限制

因素,例如取樣 時脈抖動、ADC 孔徑抖動、

熱雜訊、其他系統 雜訊來源、轉換器

超取樣率及 應用通道頻寬。

電路雜訊 來源通常

有三種:散射雜訊、 閃爍雜訊與熱雜訊。

散射雜訊是由 P-N 接面的 DC 偏壓電流所造成,

並且不會保持恆定。

通常具有 白雜訊頻譜。

閃爍雜訊是 由主動電路和

電子載波移動所造成, 通常會有 1/F 波形接近 DC。

熱雜訊則是由 電阻器熱激發

所造成,通常具有 白雜訊分布。

ADC 中的雜訊 受輸入電阻之

追蹤與保持電路 熱雜訊分布影響,

雜訊頻寬受限 於 RC 頻寬,

得到的熱雜訊 功率可以 kT/C 求得。

時脈抖動的定義為 時脈訊號緣

相較於其理想時間點的 隨機變化。

此訊號緣中的 變異會造成

轉換器在 非理想時間點下

進行資料取樣, 產生誤差進而影響

整體雜訊與 SNR。

因抖動所造成的 SNR 理論限制為

負 20 乘上 log 2 π f n 乘以總抖動。

總抖動是 時脈源抖動和

內部 ADC 時脈電路所造成的

額外抖動總和, 又可稱為孔徑抖動。

時脈抖動會 造成輸入波形

取樣錯誤, 在高輸入頻率下

更是常見。

我們可對抖動及 熱雜訊所帶來的

SNR 影響進行繪製。

熱雜訊在 低輸入頻率下

為主要雜訊, 而在高輸入頻率下,

主要雜訊則是 抖動所造成的雜訊。

我們可將 得到的 SNR

視為抖動和熱雜訊 所造成的 SNR 缺損總和。

右圖可 用來說明

抖動對高頻率 輸入訊號

所產生的較大影響。

很明顯在 低頻率輸入下,

可能誤差 比高輸入頻率

小很多。

如同先前所述, 總抖動

包含取樣 時脈抖動

和孔徑抖動。

時脈抖動是 來自外部

取樣時脈 來源的分布,

可透過相位雜訊 分析儀進行測量。

孔徑抖動只發生在 ADC 時脈電路內部,

無法透過相位雜訊 分析儀進行測量。

通常會利用 非常清楚的時脈

和高輸入頻率 來進行特性分析,

並根據 SNR 測量值 估計總抖動。

接著會利用 外部取樣時脈

相位雜訊測量值, 得到內部孔徑抖動的

估計值。

這是取樣時脈 以 122.88 MHz 執行時,

在相位雜訊 分析儀測量到的

相位雜訊圖範例。

抖動是從 10 kHz 到 10 MHz 的

相位雜訊積分值。

此例中得到的 抖動值為 299 飛秒。

若有相位 雜訊圖,

我們也可 執行簡單的

時脈源抖動估算。

在前一個範例中, 10 kHz 到

10 MHz 間 相位雜訊

積分值為每赫茲 負 75.72 dBc。

f 時派等於 122.88 MHz,

即可得到公式 結果為 299.77 飛秒。

以抖動和 輸入訊號頻率

進行 SNR 傳統計算時,

也需注意一些 其他考量。

先前提到 抖動造成的 SNR

理論限制為總抖動 與輸入頻率的函數。

頻率.

但這代表 不管取樣率

為何,輸入 頻率的 SNR

都會相同。

於是問題 變成超取樣的

優點究竟為何。

為何不在每個應用中 採用低取樣呢?

原來 SNR 計算會因取樣

時脈頻率 與輸入頻率

略受影響。

若將取樣 時脈抖動公式

帶入 SNR 公式, 即可得到兩個部分。

一個與相位 雜訊積分值有關,

另一個 則以取樣頻率的

輸入頻率 超取樣為基礎。

若使用超取樣, 此修正項便能

改善 SNR。

這是較通用的 ADC SNR 公式。

此通用公式 非常重要,

因為與利用 抖動對 SNR 的影響,

而不考慮 取樣頻率或

輸入訊號頻率的 傳統公式簡化計算相比,

此公式可對 ADC SNR 性能 進行更精確的估算。

頻率.

在大多數情況下, ADC 時脈都會經過完整濾波,

在頻率偏移較大時 也會有較佳雜訊表現。

在部分情況下, 系統要求常會

限制在特定頻寬, 因此我們只會

注意特定頻寬下的 雜訊底線性能。

使用傳統 SNR 估算會需要

更嚴格的 雜訊規格,

這些規格有 可能無法達成,

或是會使解決方案的 複雜性與成本

超出所需程度。

觀察特定頻率 和特定頻寬下的

SNR 性能,可幫助得到 更具最佳化的系統

解決方案.

我們執行了一個 簡單的實驗,

來驗證 ADC SNR 的 通用公式。

我們利用高速 ADC,產生在

時脈頻率 附近雜訊

已知過大的時脈。

我們將其用來驅動 ADC 取樣時脈,

並有兩個不同 輸入訊號送入 ADC。

其中一個 音頻為 10 MHz,

另一個則是 100 MHz。

ADC 擷取到的 結果訊號會

重疊並一起顯示。

如同我們預期, 取樣時脈相位雜訊

在 10 MHz 和 100 MHz 下

會耦合在 輸入訊號上。

超取樣 修正係數

透過 25 倍 超取樣率

提升 10 MHz 的 相位雜訊,

使得雜訊 功率減少 28 dB。

而在 100 MHz, 超取樣

為 2.5 倍, 造成雜訊功率

減少 8 dB。

下一個部份我們會討論 DAC 輸出雜訊底線的

概念。

雜訊頻譜 密度又稱 NSD,

是偏好規格與 SNR 的關係。

DAC SNR 的估算值 與 ADC 相同。

同樣的, 雜訊底線是由

量化組成、 時脈與孔徑抖動,

以及熱與電阻器 雜訊構成。

SNR 抖動限制的 處理方式也相同。

對 DAC 而言, NSD 規格通常

會比 SNR 來得重要。

NSD 在載波 附近的波形

通常必須符合 某些傳輸遮罩。

通常在需要 SNR 的時候,

系統常會以 帶通或低通

濾波器限制 訊號頻寬。

接著便可在 濾波器的通帶中,

利用 NSD 估算雜訊底線。

這也是大多數 新產品說明書

會說明 NSD、有限頻寬與 SNR 關係、

第一個 Nyquist 區等資訊的主因之一。

在實際系統中, 想要觀測的頻段

附近通常會有 較嚴格的濾波器,

此頻段外的所有 頻譜都會經過濾波。

相較於回報 整個第一

Nyquist 區的 雜訊底線,

顯示每赫茲 雜訊功率後再計算

濾波器通帶 頻率的雜訊底線,

會是比較 方便的做法。

我們來思考 一個簡單的範例,

範例中 DAC3484 在 1.2288 GSPS 下執行,

並在前 100 MHz 中

產生所需頻率。

我們假設 DAC3484 的

NSD 為每赫茲負 160 dBc。

若採用 角頻率為

FS/2 或第一 Nyquist 區的低通濾波器,

便可計算整個 第一 Nyquist 區的

雜訊底線,得到的 雜訊底線為

負 72.12 dBFS。

但若採用 角頻率

約為 100 MHz 的 低通濾波器,

那麼在 100 MHz 內的 雜訊底線則是負 80 dBFS。

若只看相關 雜訊底線,

規格最好是 在 8 dB 左右。

DAC 的 SNR 可透過 NSD 規格

轉換得到。

NSD 規格是 1 赫茲 間隔的功率。

若要將此轉換成 特定頻寬 SNR,

只要乘上赫茲 頻寬即可得到。

若為 Nyquist 區 或 FS/2 的

傳統 SNR, 則可利用

NSD 的雜訊 底線,

再加上 10 log FS/2 進行計算。

接著可將基頻 訊號功率

減去雜訊底線, 得到 SNR。

以 DAC3484 實際範例來說,

NSD 是在 每赫茲

負 160 dBc。

若 DAC 的取樣率 為 1.25 GSPS,

則可求得 雜訊底線為

每赫茲負 60 dBc 加上 10 log 1.25 GB 除以 2,

也就是負 160 dBc 加 88 dB, 得到的 SNR 為 72 dBFS。

Fs

總結來說, ADC 和 DAC 的

雜訊底線可透過 SNR 和 NSD 來求得。

您可視應用 來決定何者

比較適合。

決定使用 哪一個時,最好能

將 NSD 與 SNR 的 重點銘記在心。

以抖動為計算基礎的 SNR 是能夠方便

估算整個 Nyquist 頻段 SNR 的算法。

但對有限頻寬應用 而言可能會太過

悲觀。

以偏移頻率 測量到的 NSD 為基礎,

所求得之 SNR 估算值不考慮近載波相位雜訊,

可能會影響 EVM 百分比等頻內測量值。

EVM.

NSD 對有限 雜訊 ACPR 等

頻外測量非常有幫助。

運用時脈 NSD 曲線 和有限頻寬雜訊

計算,再搭配 SNR 通用公式,

會是頻內與 頻外測量的

理想解決方案。

感謝您收看 本簡報。

视频报错手机看扫码用手机观看收藏本课程了解高速数据转换器中的信噪比(SNR)和噪声频谱密度(NSD)未学习了解高速数据转换器中的信噪比(SNR)和噪声频谱密度(NSD)00:14:32播放中播放中 视频简介 推荐下载技术支持 视频简介了解高速数据转换器中的信噪比(SNR)和噪声频谱密度(NSD)所属课程:了解高速数据转换器中的信噪比(SNR)和噪声频谱密度(NSD)发布时间:2019.03.11 视频集数:1本节视频时长:00:14:32他的视频是TI高精度实验室 -ADC课程的一部分。演示的第一部分将通过定义SNR的含义来讨论信噪比或信噪比的概念。更详细地研究不同的组件 将探讨SNR的噪声部分,包括热噪声,量化噪声和量化时钟的抖动。将提供一个由抖动控制的SNR计算示例。演示的第2部分将研究噪声频谱密度或NSD的概念,并描述它与SNR的不同之处。 最后,将介绍一个设计实例,该设计实例将重点介绍如何使用NSD来估算DAC输出的性能,因为它与噪声基底相关的性能规范有关。推荐下载适用于高电流应用的电池测试仪参考设计GaN FET在使用条件下对电源线浪涌的可靠性RS-485收发器的信号完整性与数据速率和电缆长度的关系在PMSM上使用快速电流环路的基于EtherCAT的互联伺服驱动器用于水计量应用的 MSP430FR604x(1)、MSP430FR603x(1)、超声波感应 MSP430™ 微控制器 数据表 (Rev. C)SN65C1168E-SEP可靠性报告技术支持

去TI E2E™ 中文社区寻找更多数据转换器、信噪比的相关技术支持

已有2人参与了讨论去论坛跟帖交流https://www.shan-machinery.com